金屬鍍層XRF測(cè)厚儀是天瑞儀器鍍層系列產(chǎn)品中的“明星產(chǎn)品”，其配置基本達(dá)到了智能化水平，二維移動(dòng)平臺(tái)基本達(dá)到了三維效果，測(cè)試點(diǎn)與點(diǎn)之間的微小距離更加，采用上照式方式，滿(mǎn)足不同規(guī)格產(chǎn)品的檢測(cè)，降低了對(duì)產(chǎn)品規(guī)格的要求，滿(mǎn)足拿來(lái)即測(cè)的需求，主要應(yīng)用在鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀、鍍銠、鍍銀等金屬鍍層厚度檢測(cè)

性能特點(diǎn)

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線(xiàn)屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

產(chǎn)品介紹

名稱(chēng)及型號(hào)：金屬鍍層XRF測(cè)厚儀

鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線(xiàn)性回收程序

溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg